FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240 测厚仪



通用規範

用途 能量色散 X 射線螢光光譜儀 (EDXRF) ,用於無損測量鍍層厚度及分析材料成份。

元素範圍 最多同時測量從氯(Cl 17鈾(U 92)中的 24 種元素

﹝使用選配的WinFTM Basic 軟件時﹞

設計理 台式儀器,測量門向開啟

 

 

測量方向 從下

 

X 射線源

X 射線 帶鈹窗口的微聚焦鎢靶射線管

三檔 30 kV40 kV50 kV

孔徑直器) 4 可切換直器:圓形 Ø 0.1 mm Ø 0.2 mmØ 0.3 mm 方形 0.05 mm x 0.05 mm (按要求定制其)

基本濾片 3 種可切換的基本濾片(標配置:,無,

測量 取決於測量距離及使用 直器大小;實際的測量大小與視頻視窗中顯示的一最小的測量大小 Ø 0.15 mm.

測量距離,如測量腔體內 0 ~ 25 mm,使用專利保護DCM 功能

 

 

X 射線探測

X 射線接收器 比例接收器

樣品定位


樣品放置視頻

手動

高分 CCD 攝像頭,用於查看測量位置手動聚焦

度和測量大小過校準測量度可調


放大 40x ~ 160x

 

 

 

 

 

 

 

 

 



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